密封面的平整度通常通过光波的交叉参考效应来测量。它可以用高质量的激光干燥仪器或光学平板晶体进行测量。前者属于非接触测量方法,后者属于接触测量方法。光学平板晶体因其供应充足、价格低廉而得到广泛应用。
下面介绍使用光学平板产品检测平面度的基本原理
1、 平面晶体
折射率为516.6的玻璃由晶体或平板玻璃制成。根据直径,有六种类型:60、80、100、150、200和250mm。扁平晶体的尺寸不太大,因为它很难制造。其精度为1级和2级;工作表面的平整度非常高,其偏差不超过0.03um和0.1um。一般选用一级扁晶测量内密封圈端面的平整度,扁晶直径应大于被测工件的外径。如果密封圈的外径超过250mm,或密封圈由非金属材料制成(反射性差),可采用涂漆方法进行检查,即测量表面涂有红丹,且密封圈必须连接在零级平板上。不得连接环的接触痕迹。如果触摸连接面积大于总面积的80%,则为合格。
2、 光源
由于单色光源产生相对清晰的干度和图形,因此通常通过光波干度和测量方法选择单色光源作为光源。太阳发出的白光实际上由七种颜色组成,每种颜色代表不同波长的电磁波。当白光通过平板晶体发射到被测表面以产生光波相干性时,在被测表面的不同方向上会显示几种不同颜色的相关条纹。由于各种颜色的光线混合在一起,相干性和条纹的亮度和清晰度大大减弱,因此画面不清晰。使用单色光源,它只有一个波长。这幅画是明暗相间的亮带。这很清楚。你可以看到更多的干带和暗带,读数更准确。单色光需要单色光源,如钠灯;自然光也可以通过滤色器获得。