泵用密封件厂家为你分析机械密封怎么会失效

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密封面的平整度通常通过光波的交叉参考效应来测量。它可以用高质量的激光干法仪或光学平板晶体进行测量。前者属于非接触测量方法，后者属于接触测量方法。光学平板晶体因其供应充足、价格低廉而得到广泛应用。

以下介绍了使用光学平整产品检测平整度的基本原理

1、 平面扁平晶体

平板晶体由Pyrex玻璃、熔融晶体或折射率为1.516的光学玻璃制成，使其成为工作端面平坦的透明圆柱体。根据直径，有六种类型：60、80、100、150、200和250mm。扁平晶体的尺寸不是太大，因为它很难制造。其精度为1级和2级；工作面平整度很高，其偏差不超过0.03um和0.1um。一般选用1级扁晶测量内密封圈端面的平面度，扁晶直径应大于被测工件的外径。如果密封圈的外径超过250mm，或者密封圈由非金属材料制成（反射性差），可以用涂漆的方法进行检查，即被测表面涂有红丹，并且密封圈必须连接在零级平板上。不得连接环的接触痕迹。如果触摸连接面积大于总面积的80%，则为合格。

2、 光源

由于单色光源可以产生清晰的光柱和图形，因此通常通过光波柱和测量方法将其用作光源。太阳发出的白光实际上由七种颜色组成，每种颜色代表不同波长的电磁波。当白光通过平板晶体发射到被检表面产生光波干涉时，在被检表面的不同方向上会显示几种不同颜色的干涉条纹。由于各种颜色的光线混合在一起，干涉条纹的亮度和清晰度都大大减弱，因此图像不清晰。使用单色光源，它只有一个波长。这幅画是明暗相间的亮带和暗带。这是非常清楚的。你可以看到更多的干带和暗带，读数更准确。单色光需要单色光源，如钠灯；自然光也可以通过滤色器获得。

3、 光波干涉原理及测量

干燥和条纹的合成是来自同一光源的两组或多组光束在不同行程后从一开始就在空间的某个点会聚，从而导致亮度增强和衰减。这种光束亮度的增强和衰减就是光波的干燥和衰减。当选择单色光源时，具有相同振幅的两个波具有相同的相位并一起投影到一个点上，振幅将增大，即光的亮度将增强并显示出明亮的波段；当两个波的相位相差半个波长（180度）时，两个光波相遇后，振幅平坦，方向相反，因此实际振幅为零，导致光毫无保留地消失，出现暗带。图13是量规条的表面和量规条32的过程的示意图。将扁晶放置在被试物上，打开钠灯，光束从光源o沿箭头方向进入扁晶。该光束到达a点后，部分从扁晶下方反射，并通过扁晶到达观察点。它的旅程是aee'f；另一部分射向被测表面，然后从量块表面反射回来，并通过平板晶体到达观测点。它的旅程是艰辛的。因此，abcdg在束月内的行程是aee'f（即空气膜厚度）的两倍。此外，光束AEE’F从空气反射到平板晶体和平板晶体表面。将来，它的波长比通过abcdg的光束还要差半个波长。这样，当空气膜h等于半个波长的整数倍时，两束光束的相位总是相差半个波长，因此光线相互减弱，平板晶体表面呈现暗干带。因此，每个干带相当于扁平晶体和被测表面之间的半波长间隔。